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簡要描述：光學膠介電常數(shù)測試儀由測試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件、及LKI-1型電感器組成。
產(chǎn)品型號：LDJD-C廠商性質：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-06-27訪 問 量：1667產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,石油,建材 |
LDJD-C 光學膠介電常數(shù)測試儀
一、概述
LDJD-C 光學膠介電常數(shù)測試儀由S916測試裝置（夾具）、AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的*解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）。
二、適用標準
GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法》
GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法
ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法
GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數(shù)的測試方法
三、主要參數(shù)
功能名稱： | AS2853A |
信號源范圍DDS數(shù)字合成信號 | 100KHZ-160MHz
|
信號源頻率覆蓋比 | 11000:1 |
信號源頻率精度 6位有效數(shù) | 3×10-5 ±1個字 |
采樣精度 | 11BIT |
Q測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 |
Q分辨率 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 |
Q測量工作誤差 | <5% |
電感測量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH | 1nH-140mH 分辨率0.1nH |
電感測量誤差 | <3% |
調諧電容 | 主電容17-240pF |
電容直接測量范圍 | 1pF～25nF |
調諧電容誤差 分辨率 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
諧振點搜索 | 自動掃描 |
Q合格預置范圍 | 5-1000聲光提示 |
Q量程切換 | 自動/手動 |
LCD顯示參數(shù) | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 |
自身殘余電感和測試引線電感的 | 有 |
大電容值直接測量顯示功能(*) | 測量值可達25nF |
介質損耗系數(shù) | 精度 萬分之一 |
介電常數(shù) | 精度 千分之一 |
材料測試厚度 | 0.1mm-10mm |
四、S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
固體：材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm （二選一）
液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）
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